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Jilin Chinese Academy of Sciences - Yanshen Technology Co., Ltd.
| 中文名稱 | 聚焦離子束掃描電鏡（FIB-SEM） |
|---|---|
| 英文名稱 | ZEISSCrossbeam540；HeliosG4PFIBHXe；Helios600i |
| Cas No. | |
| 化學(xué)式 | |
| 分子量 | |
| 性狀 | |
| 存儲要求 |
| 符號 | |
|---|---|
| 危險品標(biāo)志 | |
| 安全說明 | |
| 危險類別碼 | |
| 危險品分類 | |
| 化學(xué)穩(wěn)定性 |
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